Principles of Testing Electronic Systems
1. Auflage August 2000
XX, 420 Seiten, Hardcover
Wiley & Sons Ltd
Kurzbeschreibung
Digitale Testverfahren spielen eine entscheidende Rolle in elektronischen Systemen, zum Beispiel als eingebaute Prüfroutinen in intergrierten Schaltkreisen. Dieses Buch bietet einen anschaulichen, wenig theorielastigen Einstieg in das Gebiet. Nützlich ist dabei auch eine sorgfältig recherchierte Liste weiterführender Literatur. (spring 00)
Mit ausgesprochen pragmatischer Herangehensweise entwickelt dieses Buch ein phänomenologisches Verständnis der Prinzipien zur Testung elektronischer Schaltkreise. Anschauliche Beispiele und praktische Anwendungen empfehlen den Band nicht nur als Studienbegleiter, sondern auch als Nachschlagewerk für den Berufsalltag. Bildmaterial für Lehrveranstaltungen ist im Web abrufbar. (07/00)
Overview of Testing.
Defects, Failures, and Faults.
Design Representation.
VLSI Design Flow.
TEST FLOW.
Role of Simulation in Testing.
Automatic Test Pattern Generation.
Current Testing.
DESIGN FOR TESTABILITY.
Ad Hoc Test Techniques.
Scan-Path Design.
Boundary-Scan Testing.
Built-in Self-Test.
SPECIAL STRUCTURES.
Memory Testing.
Testing FPGAs and Microprocessors.
ADVANCED TOPICS.
Synthesis for Testability.
Testing SOCs.
Appendices.
Index.
