Spectroscopy for Surface Science
Advances in Spectroscopy. Volume 26
Advances in Spectroscopy (Band Nr. 26)
1. Auflage Februar 1998
XX, 400 Seiten, Hardcover
Wiley & Sons Ltd
ISBN:
978-0-471-97423-9
John Wiley & Sons
Kurzbeschreibung
Dieser neueste Titel einer seit langem etablierten Reihe bietet eine Fülle von Informationen zu den aktuellsten Neuerungen auf dem Gebiet der Oberflächenspektroskopie. Geschrieben für den Experten, ist der Text jedoch auch für Fachleute angrenzender Gebiete verständlich gestaltet. Alle vorgestellten Verfahren werden kritisch bewertet und in die internationale Entwicklung eingeordnet. (02/98)
Electron-Yield X-Ray Absorption Spectroscopy in Gaseous Environments (S. Schroeder, et al.).
Static SIMS--Surface Analysis by Mass Spectrometry (J. Vickerman).
Scanning Probe Spectroscopies (S. Tear).
Non-Linear Optical Spectroscopy of the Electrochemical Interface (A. Tadjeddine A. Peremans).
Vibrational Spectroscopy of Electrochemical Interfaces: Some Walls and Bridges to Surface Science Understanding (M. Weaver S. Zou).
Infrared Spectroscopic Techniques for the Study of Thin Interfacial Films (A. Horn).
Nuclear Magnetic Resonance and Surface Phenomena (B. Gerstein).
Index.
Static SIMS--Surface Analysis by Mass Spectrometry (J. Vickerman).
Scanning Probe Spectroscopies (S. Tear).
Non-Linear Optical Spectroscopy of the Electrochemical Interface (A. Tadjeddine A. Peremans).
Vibrational Spectroscopy of Electrochemical Interfaces: Some Walls and Bridges to Surface Science Understanding (M. Weaver S. Zou).
Infrared Spectroscopic Techniques for the Study of Thin Interfacial Films (A. Horn).
Nuclear Magnetic Resonance and Surface Phenomena (B. Gerstein).
Index.
