Surface Analysis with STM and AFM
Experimental and Theoretical Aspects of Image Analysis
1. Auflage Dezember 1995
XII, 323 Seiten, Hardcover
233 Abbildungen
3 Tabellen
Monographie
Kurzbeschreibung
Anhand ausgewählter Beispiele gibt dieses Buch eine fundierte Einführung in die Wechselseitige Beeinflussung von Theorie, Bildsimulation und Aufnahmebedingungen, die für eine korrekte Interpretation von experimentell erhaltenen Daten unerläßlich ist.
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Rastertunnelmikroskopie (STM) und Rasterkraftmikroskopie (AFM) sind unentbehrlich für die Charakterisierung von Oberflächen. In der Vergangenheit wurden die experimentell erhaltenen Daten jedoch oftmals falsch interpretiert. Anhand konkreter Beispiele gibt dieses Buch eine fundierte Einführung in die Wechselseitige Beeinflussung von Theorie, Bildsimulation und Aufnahmebedingungen, die für eine korrekte Interpretation von experimentell erhaltenen Daten unerläßlich ist. Behandelt werden unter anderem:
Anorganische Schichtstrukturen
Organische Leiter
Organische Adsorbate an Flüssig-Festen-Grenzflächen
Amphiphile
Polymere
Ein Theoretiker und ein Praktiker haben hier ihre Expertise kombiniert - das Resultat ist ein praxisorientiertes Buch, für alle Wissenschaftler, die sich mit der Aufnahme und Interpretation STM- uns AFM-Daten beschäftigen.
Theory of STM and AFM
Practical Aspects of STM and AFM Imaging
Inorganic Layered Compounds
Organic Conductors
Organic Layers on Conducting Surfaces
Other Examples and Unresolved Problems
Conclusions
