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Wiley-VCH, Weinheim X-ray Characterization of Materials Cover Die Charakterisierung der verwendeten Materialien ist für die systematische Entwicklung neuer Werkst.. Product #: 978-3-527-29657-6 Regular price: $139.25 $139.25 Auf Lager

X-ray Characterization of Materials

Lifshin, Eric (Herausgeber)

Cover

1. Auflage Juni 1999
XVI, 261 Seiten, Hardcover
142 Abbildungen
19 Tabellen
Handbuch/Nachschlagewerk

Kurzbeschreibung

Die Charakterisierung der verwendeten Materialien ist für die systematische Entwicklung neuer Werkstoffe essentiell. Die röntgenografische Analyse spielt dabei eine große Rolle für die Aufklärung der elementaren Zusammensetzung und Kristallstrukturen aller Werkstoffarten.
Dieses Handbuch gibt einen verständlichen Überblick über alle Grundlagen und Anwendungen moderner röntgenografischer Analytik in den Materialwissenschaften.
Dies macht es zu einem Standardwerk für jeden in der Materialentwicklung und -forschung tätigen Ingenieur und Wissenschaftler.

ISBN: 978-3-527-29657-6
Wiley-VCH, Weinheim

- Gedruckte Ausgabe vergriffen -

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Die Charakterisierung der verwendeten Materialien ist für die systematische Entwicklung neuer Werkstoffe essentiell. Die röntgenografische Analyse spielt dabei eine große Rolle für die Aufklärung der elementaren Zusammensetzung und Kristall- bzw. Kornstrukturen aller Werkstoffarten.
Dieses Handbuch gibt einen verständlichen Überblick über alle Grundlagen und Anwendungen moderner röntgenografischer Analytik in den Materialwissenschaften. Besonderes Gewicht wird auf die Diskussion moderner Entwicklungen bei diesen Techniken gelegt.
Die dargebotene Informationsfülle macht es zu einem Standardwerk für jeden in der Materialentwicklung und -forschung tätigen Ingenieur und Wissenschaftler.

X-Ray Diffraction (Snyder)
Application of Synchrotron X-Radiation to Problems in Materials Science (Gerson)
X-Ray Fluorescence Analysis (Jenkins)
Small-Angle Scattering of X-Rays and Neutrons (Williams)